3532-50自動LCR測試儀/價格/生產(chǎn)廠家/
產(chǎn)品概述
3532-50自動LCR測試儀是日本日置（HIOKI）品牌推出的一款高性能阻抗分析設備，專為電感（L）、電容（C）、電阻（R）等電子元件的精密測量而設計。該儀器憑借寬頻帶測試范圍和快速測量能力，廣泛應用于電子元器件的研發(fā)、生產(chǎn)線質(zhì)量控制及來料檢驗等領域。其測試頻率覆蓋42Hz至5MHz，支持4位分辨率自由調(diào)節(jié)，用戶可根據(jù)需求靈活設定測試條件。25
核心功能與技術特點
3532-50采用觸摸屏操作界面，通過直觀的交互設計簡化了參數(shù)設置流程，所需設定選項會按邏輯順序自動排列顯示。儀器支持14種參數(shù)測量，包括阻抗（│Z│）、導納（│Y│）、相位角（θ）、等效串聯(lián)電阻（ESR）等，并能實現(xiàn)5ms高速測量，顯著提升生產(chǎn)效率。此外，設備內(nèi)置比較器功能，可設定上下限值并輸出分類結(jié)果，適用于自動化產(chǎn)線多品種測試需求。通過選配直流偏置單元（如9268型號），還可支持±40VDC偏置電壓測試，擴展了應用場景。714
硬件配置與兼容性
儀器標配電源線和保險絲，并提供豐富的選件支持，如四端子探頭（9140）、SMD測試夾具（9263）等，滿足不同被測物的連接需求。其機身尺寸為352×124×323mm，重量6.5kg，設計緊湊便于實驗室或產(chǎn)線部署。工作電壓兼容100～240VAC，適應全球主要地區(qū)的電力標準。用戶還可通過外部打印接口（9442型號）或計算機通信功能實現(xiàn)數(shù)據(jù)記錄與分析。119
價格與市場定位
3532-50定位中高端市場，參考價格約為44,155元人民幣（具體因渠道和配置有所浮動）。日本日置作為專業(yè)電子測量儀器制造商，以高精度和可靠性著稱，該型號憑借±0.08%的基本精度和5ms的快速響應，成為電子元件測試領域的優(yōu)選設備之一。其設計兼顧科研評估與工業(yè)化應用，尤其適合對高頻特性有嚴苛要求的場景。821
中英文對照介紹
English Version:
The HIOKI 3532-50 Automatic LCR Meter is a high-performance impedance analyzer designed for precise measurement of inductors (L), capacitors (C), and resistors (R). With a wide frequency range of 42Hz to 5MHz and 4-digit resolution, it enables flexible testing under customized conditions. The touchscreen interface simplifies operation, while 14-parameter measurements (including │Z│, ESR, and phase angle) and 5ms high-speed testing enhance workflow efficiency. Optional DC bias units (±40V) extend its versatility in R&D and production lines.
中文版本:
3532-50自動LCR測試儀由日本日置研發(fā)，專為電子元件的電感、電容及電阻參數(shù)提供高精度測量解決方案。測試頻率42Hz至5MHz可調(diào)，支持14種參數(shù)顯示與5ms高速測量。觸摸屏設計簡化操作流程，選配夾具適配多樣化測試場景。其均衡的性能與穩(wěn)定性，使其成為電子制造與科研領域的理想工具。1626
（注：以上內(nèi)容基于公開技術參數(shù)編寫，不涉及夸大或絕對化表述。）
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簡單介紹
3532-50自動LCR測試儀 自動LCR測試儀，測試參數(shù)L、C、D、Q、θ、|Y|、G、B，測試頻率42Hz～5MHz(主機)，基本精度±0.08%。
3532-50自動LCR測試儀
的詳細介紹
3532-50自動LCR測試儀
LCR測試儀,基本精度±0.08%,高速測試20ms,顯示屏幕放大功能,測試頻率可自動設定改變,9442列表機可將測試值及比較結(jié)果列印.
技術參數(shù)
| 測量參數(shù) |
|Z|,|Y|,θ,Rp(ECR),G,X,B,Cp,Ls,D(tan δ)和Q |
| 測量范圍|Z|,R,X |
10.00mΩ to 200.00MΩ |
| θ |
-180.00°to +180.00° |
| C |
0.320pfto 380.00F |
| L |
16.000nH to 750.00kH |
| D |
0.00001 to 9.9999 |
| Q |
0.01 to 999.99 |
| |Y|,G,B |
5.0000 ns to 99.999s |
| 基本精度 |
Z:±0.08rdg.θ:±0.05° |
| 測量頻率 |
DC,42Hz to 5MHz |
| 信號電平 |
10mv to 5 V rms
10μ A to 100mA rms |
| 輸出阻抗 |
50Ω |
| 顯示屏 |
LCD帶背光(全五位) |
| 測試時間 |
SLOW 1/2:100ms/180ms |
| 設置存貯 |
大30個設置 |
| DC bias |
Eternal DC bias± V max.(option) |
| 擴展接口 |
GP-IB ro RS-232(selectable options),external I/O for sequencer
use |
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