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產(chǎn)品導(dǎo)航
產(chǎn)品詳細(xì)
 
產(chǎn)品名稱: YB3116數(shù)字集成電路測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): YB-3116
產(chǎn)品報(bào)價(jià):
 
   
 產(chǎn)品詳細(xì):

YB3116數(shù)字集成電路測(cè)試儀

 

YB3116數(shù)字集成電路測(cè)試儀產(chǎn)品介紹(中文版)

YB3116數(shù)字集成電路測(cè)試儀是一款專業(yè)級(jí)電子元器件檢測(cè)設(shè)備,專為數(shù)字集成電路的功能驗(yàn)證與參數(shù)分析而設(shè)計(jì)。本設(shè)備采用模塊化架構(gòu)與智能化檢測(cè)技術(shù),能夠快速完成74/54系列、4000系列等主流數(shù)字邏輯器件的功能測(cè)試,適用于電子研發(fā)實(shí)驗(yàn)室、教學(xué)實(shí)訓(xùn)中心及電子維修領(lǐng)域。

設(shè)備配備24通道可編程測(cè)試接口,支持TTL、CMOS等多種邏輯電平的自動(dòng)匹配功能,最高測(cè)試頻率可達(dá)25MHz。通過(guò)高精度電壓測(cè)量模塊,可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)器件供電電流(范圍0-50mA,分辨率1μA)及輸入輸出電壓特性(范圍0-5V,精度±0.5%)。獨(dú)創(chuàng)的三階信號(hào)驅(qū)動(dòng)技術(shù)有效提升測(cè)試穩(wěn)定性,確保在高低溫環(huán)境(工作溫度-10℃~60℃)下的測(cè)試可靠性。

人性化操作界面配備4.3英寸彩色觸控屏,支持離線測(cè)試模式與自動(dòng)測(cè)試序列編程。內(nèi)置器件數(shù)據(jù)庫(kù)包含300+標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)參數(shù)模板,用戶可通過(guò)USB接口進(jìn)行數(shù)據(jù)庫(kù)擴(kuò)展更新。獨(dú)創(chuàng)的故障診斷系統(tǒng)能自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告,標(biāo)注異常管腳位置及參數(shù)偏差值,顯著提升故障定位效率。設(shè)備配置標(biāo)準(zhǔn)JTAG接口,支持與PC端分析軟件的數(shù)據(jù)交互,實(shí)現(xiàn)測(cè)試波形的實(shí)時(shí)觀測(cè)與存儲(chǔ)。

本產(chǎn)品采用軍工級(jí)PCB制造工藝,關(guān)鍵電路配備多重電磁屏蔽設(shè)計(jì),平均無(wú)故障工作時(shí)間(MTBF)超過(guò)10,000小時(shí)。緊湊型金屬機(jī)身(尺寸320×220×85mm)配合便攜式提手設(shè)計(jì),適用于移動(dòng)檢測(cè)場(chǎng)景。智能溫控風(fēng)扇系統(tǒng)在保證散熱效率的同時(shí)將工作噪音控制在40dB以下,創(chuàng)造安靜的操作環(huán)境。

YB3116測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制板卡檢測(cè)、通信設(shè)備維護(hù)、汽車電子診斷等領(lǐng)域,其高效的測(cè)試能力與穩(wěn)定的性能表現(xiàn),已成為電子工程師進(jìn)行數(shù)字電路調(diào)試、教學(xué)演示和產(chǎn)品質(zhì)檢的優(yōu)選工具。

YB3116 Digital IC Tester Product Introduction (English Version)

The YB3116 Digital Integrated Circuit Tester is a professional-grade electronic component testing device specifically designed for functional verification and parametric analysis of digital ICs. Featuring modular architecture and intelligent detection technology, this equipment efficiently tests mainstream digital logic devices including 74/54 series and 4000 series components, making it ideal for electronics R&D laboratories, technical training centers, and equipment maintenance applications.

Equipped with 24 programmable test channels, the tester automatically adapts to TTL and CMOS logic levels with a maximum testing frequency of 25MHz. Its precision voltage measurement module monitors power supply current (0-50mA range, 1μA resolution) and I/O voltage characteristics (0-5V range, ±0.5% accuracy) in real-time. The proprietary three-stage signal drive technology ensures stable operation across temperature variations (-10℃ to 60℃).

The user-friendly interface incorporates a 4.3-inch color touchscreen supporting offline testing and automated test sequence programming. With a built-in database containing 300+ standard device profiles, users can expand device libraries via USB connectivity. The intelligent fault diagnosis system generates detailed reports highlighting defective pins and parameter deviations, significantly improving troubleshooting efficiency. Standard JTAG interface enables seamless data exchange with PC analysis software for real-time waveform monitoring and storage.

Constructed with military-grade PCB manufacturing standards, critical circuits feature multi-layer EMI shielding, achieving a mean time between failures (MTBF) exceeding 10,000 hours. The compact metal chassis (320×220×85mm) with carrying handle design ensures portability for field service applications. An adaptive thermal management system maintains optimal operating temperatures while keeping noise levels below 40dB.

Widely adopted in industrial control board verification, communication equipment maintenance, and automotive electronics diagnostics, the YB3116 tester has become a preferred solution for electronic engineers engaged in circuit debugging, technical demonstrations, and product quality inspection due to its reliable performance and efficient testing capabilities.

簡(jiǎn)單介紹
數(shù)字集成電路測(cè)試儀|YB31161.測(cè)試種類:TTL:74/54系列;CMOS:4000、4500、40000、c00系列2.多值參數(shù)測(cè)試功能 3.測(cè)試參數(shù)選擇:8種可選擇電源,多種輸入電流選擇,多種負(fù)載電流選擇,多種測(cè)試電壓比 較,功耗測(cè)試等 4.自動(dòng)查找型號(hào) 5.全中文菜單


 

數(shù)字集成電路測(cè)試儀|YB3116

的詳細(xì)介紹
數(shù)字集成電路測(cè)試儀|YB3116
功能描述  
測(cè)試種類 TTL:74/54系列;CMOS:4000、4500、40000、c00系列
測(cè)試參數(shù)選擇: 8種可選擇電源,多種輸入電流選擇,多種負(fù)載電流選擇,多種測(cè)試電壓比
其它  
  數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)主要是對(duì)數(shù)字集成電路進(jìn)行在線/離線檢測(cè)診斷的測(cè)試系統(tǒng),F(xiàn)已開(kāi)發(fā)出YB3112、 YB3113、YB3114、YB3116、YB3117等一系列型號(hào)。 它們可以廣泛用于科研、軍事、大專院校、通信、醫(yī)療、工業(yè)控制、儀器制造、航空航天域等各行各業(yè)電腦設(shè)備、數(shù)字電子設(shè)備、自動(dòng)生產(chǎn)線等設(shè)備的生產(chǎn)和維修。

     

1.測(cè)試種類:TTL:74/54系列;CMOS:4000、4500、40000、c00系列
2.多值參數(shù)測(cè)試功能
3.測(cè)試參數(shù)選擇:8種可選擇電源,多種輸入電流選擇,多種負(fù)載電流選擇,多種測(cè)試電壓比
較,功耗測(cè)試等
4.自動(dòng)查找型號(hào)
5.全中文菜單

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