華東儀表網(wǎng)|上海雙旭電子有限公司
 
無損檢測(cè)儀表 | 環(huán)境儀表 | 電工儀表 | 自動(dòng)化儀表
氣源處理器閥類 | 開關(guān)電器電線 | 五金工具 | 品牌專區(qū)
   首 頁 關(guān)于我們 新聞中心 產(chǎn)品中心 品牌專區(qū) 資料下載 匯款中心 在線咨詢 聯(lián)系我們
搜索產(chǎn)品: 主營產(chǎn)品:濁度儀,泰克示波器,兆歐表,黑白密度計(jì),噪音計(jì)
您的位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 供應(yīng) YB-3114在線/離線集成電路測(cè)試器
產(chǎn)品導(dǎo)航
產(chǎn)品詳細(xì)
 
產(chǎn)品名稱: 供應(yīng) YB-3114在線/離線集成電路測(cè)試器
產(chǎn)品型號(hào): YB-3114
產(chǎn)品報(bào)價(jià):
 
   
 產(chǎn)品詳細(xì):

供應(yīng) YB-3114在線/離線集成電路測(cè)試器

 

產(chǎn)品概述

YB-3114在線/離線集成電路測(cè)試器是一款功能強(qiáng)大的測(cè)試設(shè)備,適用于多種數(shù)字集成電路的功能測(cè)試。該設(shè)備支持TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可編程器件的測(cè)試,能夠滿足實(shí)驗(yàn)室、生產(chǎn)線和維修場(chǎng)景的需求。采用中文Windows操作平臺(tái),用戶界面友好,支持開放式自建芯片和數(shù)據(jù)庫,方便用戶根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行定制化測(cè)試。測(cè)試結(jié)果顯示方式多樣,包括圖形顯示(時(shí)序波形)和狀態(tài)顯示,幫助用戶快速準(zhǔn)確判斷測(cè)試結(jié)果。1

核心功能

該測(cè)試器具備V-I特性曲線測(cè)試功能,能夠?qū)?00腳以下的芯片進(jìn)行高效測(cè)試,每引腳最大輸出電流達(dá)100mA,測(cè)試速度可達(dá)500kHz/Pin。設(shè)備采用模塊化設(shè)計(jì),兼容臺(tái)式電腦和筆記本電腦,外形尺寸為90H×350W×350D(mm),質(zhì)量約4.7kg,便于移動(dòng)和部署。工作環(huán)境要求為0°C~30°C,工作濕度不超過75%,功耗約45W(不包括待測(cè)板功耗),工作電壓220V±10%,適合大多數(shù)電子測(cè)試環(huán)境。13

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

YB-3114測(cè)試器采用先進(jìn)的圖形化顯示技術(shù),可直觀呈現(xiàn)測(cè)試波形和狀態(tài)信息,大大提升了測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。設(shè)備支持在線和離線兩種測(cè)試模式,在線測(cè)試時(shí)無需將芯片從電路板上取下,簡化了測(cè)試流程。自適應(yīng)測(cè)試功能使其能夠準(zhǔn)確判斷各類集成電路的工作狀態(tài),相比傳統(tǒng)測(cè)試方法具有明顯優(yōu)勢(shì)。測(cè)試數(shù)據(jù)庫可自由擴(kuò)充,用戶可根據(jù)需要添加新的芯片測(cè)試參數(shù),滿足不斷變化的測(cè)試需求。26

應(yīng)用場(chǎng)景

本產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子制造、科研機(jī)構(gòu)、教育實(shí)驗(yàn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。在生產(chǎn)線測(cè)試環(huán)節(jié),可快速檢測(cè)集成電路的功能完整性;在維修維護(hù)工作中,能準(zhǔn)確診斷故障芯片;在教學(xué)實(shí)驗(yàn)中,幫助學(xué)生理解集成電路的工作原理。設(shè)備操作簡單,學(xué)習(xí)曲線平緩,即使是初學(xué)者也能快速掌握基本測(cè)試方法。48

Product Overview

The YB-3114 In-Circuit/Off-Circuit IC Tester is a versatile testing device designed for functional verification of various digital integrated circuits. It supports testing of TTL, CMOS, GAL, RAM, EPROM, CPU and programmable devices, making it suitable for laboratory, production line and maintenance applications. Featuring a Chinese Windows operating platform, the user-friendly interface allows open creation of chip libraries and databases for customized testing requirements. Test results can be displayed in graphical waveforms or status formats for quick and accurate evaluation.1

Key Features

This tester incorporates V-I characteristic curve testing capability, efficiently handling chips with up to 100 pins. With maximum output current of 100mA per pin and testing speed reaching 500kHz/Pin, it delivers reliable performance. The modular design is compatible with both desktop and laptop computers, measuring 90H×350W×350D(mm) and weighing approximately 4.7kg for easy portability. Operating conditions include temperature range of 0°C~30°C, humidity below 75% RH, power consumption around 45W (excluding power for test boards), and 220V±10% power supply, suitable for most electronic testing environments.13

Technical Advantages

The YB-3114 tester utilizes advanced graphical display technology to visually present test waveforms and status information, significantly improving testing efficiency and accuracy. Both in-circuit and off-circuit testing modes are supported, with in-circuit testing eliminating the need to remove chips from circuit boards. Its adaptive testing function provides precise evaluation of various IC working states, outperforming traditional testing methods. The expandable test database allows users to add new chip parameters as needed, accommodating evolving testing requirements.26

Applications

This product finds extensive applications in electronics manufacturing, research institutions, educational laboratories and quality control processes. On production lines, it enables rapid verification of IC functionality; during maintenance work, it helps accurately diagnose faulty chips; in teaching experiments, it assists students in understanding IC operation principles. With straightforward operation and gentle learning curve, even beginners can quickly master basic testing procedures.48

簡單介紹
YB3117配臺(tái)式電腦 YB3118配筆記本電腦 外形尺寸 90H×350W×350D(mm) 質(zhì)量 約4.7kg YB3114在線/離線集成電路測(cè)試器


 

YB3114在線/離線集成電路測(cè)試器

的詳細(xì)介紹
大測(cè)試引腳數(shù)100:
中文Windows操作平臺(tái):
開放式自建芯片和數(shù)據(jù)庫。
YB3114在線/離線集成電路測(cè)試器  
 

YB3114在線/離線集成電路測(cè)試器
 

YB3117/YB3118
測(cè)試種類 可測(cè)試TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可編程器件
顯示方式 圖形顯示(時(shí)序顯示)、狀態(tài)顯示
被測(cè)芯片腳數(shù) 100腳以下
大輸出電流 每引腳100mA
測(cè)試速度 500kHz/Pin
中文Windows操作平臺(tái)  
開放式自建芯片的數(shù)據(jù)庫  
V-1特性曲線測(cè)試  
工作溫度 0°C~30°C
工作濕度 75%
功耗 約45W(不包括供待測(cè)板的功耗)
工作電壓 220V±10%
YB3117配臺(tái)式電腦 YB3118配筆記本電腦
外形尺寸 90H×350W×350D(mm)
質(zhì)量 約4.7kg
303AB-4  303AB-3  303AB-2  303AB-1  303AB-00  303A-4  303A-3  303A-2  303A-1  303A-00  303-4,  303-3  303-3  303-2  :303-1  MGC-350   MGC-300H  HH.CP-01CRW  HH.CP-01CRW  HH.CP-TW  HH.CP-01W,  HH.CP-T  HH.CP-01  DHP-9270  DHP-9160  DHP-9080  DHP-9080  DHP-9080  DHP-9050  DHP-9272    DHP-9162  DHP-9082  DHP-9052  DHP-9032  DHP-9012  LG165B  LG100B  LG100B  LG050B  PH030  202V2  202V1  202V1  202-AB-4  202-A-4  202-4  202-AB-3  202-A-3  202-3  202-AB-2  202-A-2  202-2  202-2  202-2  202-AB-1  202-A-1  202-1  202-AB-0  202-AB-0  v202-A-0  202-0  202-A-00  202-00  BS-2F  BS-2F  BS-2F  BS-1E  BS-1E  250B  150A  SHPG180  SHP250  SHP180  DHP120  DHP060  DHP060  DHP030  DHP030  SP120  SP060  SP030  SP030  SP030  HZQ-311C  HZQ-211C,  HZQ-211C,  HZQ-311  HZQ-211  HZQ-X700C  HZQ-X700  HZQ-X500C  HZQ-X500  HZQ-X500  HZQ-X500  HZQ-X500  HZQ-X500  HZQ-X500  HZQ-X300C  HZQ-X300C  HZQ-X300  HZQ-X300  HZQ-F160C  HZQ-F160C  HZQ-F160A  HZQ-X100A  THZ-98C  THZ-98AB  THZ-98A  THZ-300C  THZ-300  THZ-103B  THZ-100B  THZ-100B  THZ-100B  THZ-100  THZ-100  MGC-450HPY-2  MGC-450HP-2  MGC-450HP  MGC-400H  MGC-350HPY-2  MGC-350HP-2  MGC-350HP  MGC-350HP  MGC-300H  MGC-450BY-2  MGC-450BP-2  MGC-350BY-2  MGC-350BP-2  MGC-250BY-2  MGC-250BP-2  MGC-400BP  MGC-400B  MGC-350BP  MGC-300B  MGC-300A  MGC-250P  MGC-250  MGC-100P  MGC-100  BPMJ-250F  BPMJ-150F  BPMJ-70F  

 

相關(guān)產(chǎn)品
在線/離線集成電路測(cè)試器/YB-3117
供應(yīng) 在線/離線集成電路測(cè)試器YB3118
YB3116A集成電路測(cè)試器
電容測(cè)試分選儀CY2646A
CY2645B電容測(cè)試分選儀
電容測(cè)試分選儀CY2612
86P3AZ / 86P2AZ PH電極棒
直流低電阻測(cè)試儀CY2511
AZ8680/AZ8681/AZ8682酸堿計(jì)
AZ8601 PH/mV/溫度表

聯(lián)系我們

電話:021-63515605   63504668       63515606   63510720 

手機(jī):18916150267 微信同號(hào) 13818327383  13601759153

傳真:021-63510720

 郵編:201803

地址:上海市嘉定區(qū)江橋張掖路355號(hào)6號(hào)樓8層www.shanghaiybw.com  www.shuangxudianzi.com  www.yqybjyw.com  www.meadowvalleygroup.com www.shanghaiyiqi.com

 

s
 詢價(jià)留言:
  您的姓名:
  您的單位:
  您的電話:
  您的手機(jī)號(hào):
  在線QQ號(hào)碼:
  E-mail:
   留言內(nèi)容:
     
ICP備案號(hào):滬ICP備09002683號(hào)-10 營業(yè)執(zhí)照

滬公網(wǎng)安備 31011402001949號(hào)